气溶胶颗粒的差分电迁移率分级与分析方法，已被广泛用于纳米级到微米级的各类气溶胶颗粒的测量。同时，带电颗粒的电迁移率分级可获得粒度可知的单分散颗粒，并用于校准其他仪器。该方法基于简单的物理原理，已成为气溶胶技术领域的重要组成部分，如气溶胶仪器、基于气溶胶的材料生产、
半导体工业生产洁净环境控制、大气气溶胶科学、工程化纳米颗粒表征等。
然而，为准确使用电迁移率分级与分析，需充分注意以下问题：滑移修正系数、附着系数、粒度相关的气溶胶颗粒粒度电荷分布，以及将测量的迁移率分布反演为气溶胶分布粒度方法。因此，有必要建立运用差分电迁移率分析方法对气溶胶颗粒分级的标准，为颗粒粒度和数量浓度的测量提供一种恰当的质量控制方法。
近日，由江苏省颗粒学会 、南京威普粉体工程有限公司 、淮阴工学院 、中国计量大学 、南京理工大学 、苏颗粒科技南京有限公司等单位起草，TC168(全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会)归口的国家标准计划《粒度分布的测定 气溶胶粒子差分电迁移率分析法》征求意见稿已编制完成，现公开征求意见。
本文件提供了通过分析气溶胶颗粒的电迁移率测定其粒度分布的方法与要求，通常称为气溶胶颗粒差分电迁移率分析法，其适用于测量粒度范围为1nm-1μm的颗粒。同时，该文件中还包括不确定度的计算方法，但不涉及特定仪器设计或有特殊要求的粒度分布测量。
并且该文件不包括在特定标准或指南中定义的差分电迁移率分析系统(DMAS)应用的技术要求和规范，例如道路车辆应用(ISO/TC 22)、环境测量(ISO/TC 146)或纳米技术(ISO/TC 229)。
系统与设备：
基于差分电迁移率分析法，测量粒度分布的完整DMAS通常具有以下基本组件：预调节器；荷电调节器，即颗粒荷电调节器；具有流量控制和高压控制的DEMC；气溶胶颗粒检测器；具有数据采集和数据分析的系统控制器(通常是计算机的内置固件或专用软件)。
定期测试和校准：
遵循相关的校准流程，能保障 DMAS 粒度与浓度测量误差在可控范围内。该流程只能由专业人员操作，并应包含零点测试、流量计校准、电压校准、颗粒荷电调节器测试、粒度测量校准、粒度精度测试和数量浓度校准等项目。
在固定电压下使用 DEMC 生成选定粒度的颗粒：
包括多电荷颗粒避免方法、使用认证球体进行粒度校准、鞘气流设定、总不确定度的计算等。
浙公网安备 33010602002722号
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