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讲座报名-日立荧光新技术讲座开讲

2019年11月14日 09:23:34来源:日立

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  【仪器网 日立】 日立经典款荧光分光光度计于2019年10月推出全新附件:荧光分布成像系统(EEM View)。它拥有行业首例的技术,同时分析荧光光谱和反射光谱,将样品的光谱信息可视化,同时获得更加细致的光谱信息。
 
  为让客户更好的了解这项新技术, “荧光分布成像系统”巡回讲座将于11月15日正式启动,我们将为大家带来:
 
新技术讲座将经过山西、河北、北京、天津、南京、杭州、福州等十几个城市。
 
(本文来源:日立,转载请注明出处
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