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技术文章

QUC-200数显式磁性测厚仪

点击次数:275 发布时间:2014-11-5

QUC-200数显式磁性测厚仪

QUC-200 数显式磁性测厚仪简介:
执行标准: GB/T1764-89 GB/T13452.2-92 ISO2808-74 ,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。

QUC-200 数显式磁性测厚仪主要技术参数:
1
测量范围: O-200μm
2
测量精度:±( 0.7μm+3%H *H为标准厚度

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