日前，2018全国表面分析科学与技术应用学术会议于苏州市举行。本次会议旨在积极推动表面分析科学及其应用技术的发展，促进表面分析技术与其它学科的融合，加强同行之间交流与合作，建立表面分析的交流平台，促进表面分析研究队伍的壮大。本次会议包括四个主题（两个分会）：表面分析技术，表面科学，环境及能源催化，光电材料及器件。并包括6个大会报告、6个特邀报告、42个邀请报告、若干普通报告及墙报展示。会议特设4个青年科学家奖和 30个*墙报奖。此次会议吸引了包括来自新加坡、德国、瑞士、澳大利亚等国内外的200多名专家学者参会。

　　大会开幕式由新加坡国立大学苏州研究院陈伟教授主持，新加坡国立大学苏州研究院院长许国勤教授、新加坡国立大学副校长Andrew T.S.Wee教授、南京大学董林教授分别致辞。大会邀请到中国科学院化学所刘云圻院士、新加坡国立大学副校长Andrew T. S. Wee教授、北京大学吴凯教授、清华大学朱永法教授分别作了大会报告；中国科学技术大学朱俊发教授、清华大学马旭村研究员、上海科技大学刘志教授、天津大学胡文平、武汉大学李振分别作了特邀报告。

　　我司作为铂金赞助商参加了此次会议，并在会议上我司分析测试仪器市场部的宋玉婷博士做了题为“XPS分析—从超薄到超厚”的报告。她在报告中说到我司作为世界yi流的分析仪器供应商，具有140多年的历史，不仅拥有色谱、质谱类的分析仪器，同时拥有多种大型分析仪器，可以为科研工作者提供从样品表面、成分、状态等的分析手段。其中我司的表面分析仪器X射线光电子能谱（XPS）是由英国Kratos公司研发和生产，Kratos公司是我司的全资子公司，具有近50年的研发历史，在X射线光电子能谱及其相关技术处于地位。报告中她结合我司XPS的应用，介绍了我司的Axis Supra产品如何利用XPS中的不同功能获得样品表面不同深度的信息，并介绍Axis Supra产品*的自动化特点。