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  • 光学薄膜厚度测量系统

    NanoCalc光学薄膜厚度测量系统是一种用户可配置的膜厚测量系统，它利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度，可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。

    型号： NanoCalc 所在地：上海市参考价： 面议更新时间：2016/8/31 9:23:18 对比
    薄膜厚度测量系统光学薄膜厚度光学薄膜厚度测量系统
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