超细化、纳米化是现代粉体材料研究和生产的趋势，为满足对这些材料的粒度分析，激光粒度仪的测量范围也向超细化、纳米化方向发展，所以现代高性能的激光粒度仪的测量下限已经达到 20nm 甚至 10nm，而样品折射率(包括收率)是Mie散射求解的一个重要条件，如果折射率错误，将导致粒度测试结果错误。随着新材料、合成材料以及混合材料越来越多，用常规手段测试这些材料的折射率很困难，这是粒度测试遇到的难题。为解决这个难题，百特研制成功了利用高性能激光粒度仪测量样品折射率的方法，在粒度测试前先测量折射率和吸收率，保证了对新材料粒度测试的准确性，收到了很好的效果。