牛津仪器邀您参观2017中国电子电路展览会CPCA

　　由国家*支持，中国印制电路行业协会、上海颖展展览服务有限公司主办的第二十六届中国电子电路展览会（CPCA SHOW 2017）将于3月7-9日在国家会展中心（上海） 7.1H 馆、8.1H 馆举办。
　　
　　ws 如往年一样在现场搭建了大型展台，并展出全系列镀层测厚仪。我司镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析，可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。微聚焦XRF镀层测厚及元素分析仪，用于PCB/PWB精饰和电子配件电镀的快速质量控制和验证测试，让您在几秒内轻松得到正确结果。
　　
　　优化的微聚焦硬件和直观的用户界面，简化了常规分析，提高了产出，使用“一键式”操作可确保zui简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。
　　
　　X-Strata 和 MAXXI 系列产品能分析功能性涂料和电路板、电子元器件、集成电路（IC）、硬盘驱动器（HDD）和光电产品上的镀层。
　　
　　我司镀层测厚仪不仅仅有检测精度*的台式X荧光光谱仪Eco系列、MAXXI 系列、X-Strata 920，还有方便易用的便携式CMI 系列镀层测厚仪。
　　
　　我们的展位号是7.1H馆7M39，欢迎参观！