TT220涂层测厚仪校准方法

为使测量准确，应在测量场所对TT220涂层测厚仪进行校准。一、 TT220涂层测厚仪的校准标准片（包括箔和基体）

已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。

⒈ 校准箔
对TT220涂层测厚仪“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的校准。

⒉ 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪器，覆盖层应是非磁性的。

二、TT220涂层测厚仪的基体

⒈ 对于标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。

⒉ 如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：
1） 在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；
2） 用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
⒊ 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。

三、TT220涂层测厚仪的校准方法

有两种测量中使用的校准方法，零点校准；二点校准；还有一种针对测头的基本校准。

⒈ TT220涂层测厚仪的零点校准

a． 在基体上进行一次测量，仪器显示＜×.×μm＞。
b． 按一下“ON/C”键，屏显＜0.00μm＞即完成零点校准。
c． 要准确地校准零点，须重复上述a、b 以获得基体测量值小于1μm，这样有利于提高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。

⒉ TT220涂层测厚仪的二点校准

a． 先校零点（见上）。
b． 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示＜×××μm＞。
c． 用▲或▼键修正读数，使其达到标准片上的标称值。校准已完成，可以开始测量了。
注意：即使显示结果与标准片值符合，按▲、▼键也是*的，例如按一次▲键一次▼键。如欲较准确地进行二点校准，可重复b、c 过程，以提高校准的精度，减少偶然误差。

⒊ TT220涂层测厚仪在喷沙表面上校准

喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值，其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定
a． 仪器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
b． 在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量10 次左右，得到平均值Mo。
c． 然后，在已涂覆的表面上测量10 次得到平均值Mm。
d． （Mm—Mo）±S 即是覆盖层厚度。其中S（标准偏差）是SMm 和SMo 中较大的一个。

⒋ TT220涂层测厚仪的基本校准

在下述情况下，改变基本校准是有必要的：
──测头顶端被磨损
──测头修理后
──特殊的用途
在测量中，如果误差明显地超出给定范围，则应对测头的特性重新进行校准，称为基本校准。通过输入6 个校准值（一个零值和5 个厚度值）可重新校准测头。

基本校准操作方法如下：
a． 在仪器关闭状态下按住▼键再按ON/C 键开机，随着一声鸣响即进入基本校准方式。屏幕显示：B—Calibrate
b． 先校零值（见零点校准）。可连续重复多次，以获得一个多次校准的平均值，这样可提高校准的准确性。
c． 使用标准片，按厚度增加的顺序做五个厚度的校准（见二点校准中的b、c）。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上，理想的情况是2倍。例如：50、100、200、400、800μm。zui大值应接近、但低于测头的zui大测量范围。
d． 在输入6 个校准值后，测量一下零点，仪器自动关闭，新的校准值已存入仪器。当再次开机时，仪器将按新的校准值工作。