扫描探针显微镜NanoFirst-3100

【简单介绍】

扫描探针显微镜NanoFirst-3100是一种以物理学原理为基础，通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。

【详细说明】

扫描探针显微镜NanoFirst-3100技术指标:

SPM探头

样品尺寸：直径小等于30mm；厚度小等于15mm。

XYzui大扫描范围：标准6X6微米

XY向分辨率：0.4nm（轻敲模式）；0.3nm（AFM模式）；0.1nm（STM模式）

Ｚ向分辨率：0.05nm（轻敲模式）；0.03nm（AFM模式）；001nm（STM模式）

XY二维样品移动范围：５mm；精度0.5微米

步进马达自动进行针尖-样品逼近

44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统（选配）

电化学针尖块，液电池，液体轻敲式成像功能（选配）

全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台（选购）

扫描探针显微镜NanoFirst-3100特点

计算机全数字化控制，操作简捷直观。

步进马达自动进行针尖--样品逼近，保证实验圆满成功。

深度陡度测量，三维显示。

纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。

Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域．

标准RS232串行接口,无需任何计算机卡

样品观测范围从0.001um-20000um。

扫描速度达40000点/秒

可选配纳米刻蚀功能模块。