X射线衍射标准物质  SRM 2000为高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD) 社区提供了国际单位制 (SI) [1] 可追溯的 Si (220) 透射间距、表面到晶面晶片我们的参考波长在反射中的误切和表面到硅 (004) 布拉格角。 X射线衍射标准物质  SRM 2000 的一个单元由 25 mm × 25 mm × 0.725 mm 双抛光 (100) 取向的单晶硅样品组成，具有标称 50 nm Si0.85Ge0.15 外延层和 25 nm 硅帽。

X射线衍射（XRD）是一种强大的分析技术，用于研究各种材料的晶体结构、组成和物理性能，包括矿物、金属、陶瓷和聚合物。为了确保XRD分析的准确性和可靠性，使用X射线衍射标准物质（也称为参考材料或标准品）进行仪器校准、方法验证和质量控制。

X 射线衍射标准物质  SRM 2000        英文名称： Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction

东莞市百顺生物科技有限公司代理销售美国NIST标准物质：X 射线衍射标准物质  SRM 2000。

储存和处理：

外延层可能受到损坏或晶圆受到机械应变；因此应避免与X 射线衍射标准物质  SRM 2000的前表面接触。要去除表面污染，请使用过滤过的氮气。峰轮廓：测得的衍射峰明显不对称。支持性测量表明，这种不对称性可能不全是由于仪器效应，而是部分由于SRM 2000原料的性质。因此，分裂的Pearson VII剖面用于拟合和估计峰值位置，并建议用于确定校准的峰值位置。由于不对称性对轮廓位置确定的不同影响，使用另一个轮廓函数可能导致系统偏差。