2019年11月28-29日，SHNTI联合NenoVision在中科院合肥物质院强磁场中心举办了主题为“LiteScope™: In-situ AFM in SEM-correlative Probeand Electron Microscopy(CPEM) ”的技术讲座，并由来自捷克的NenoVision技术专家给强磁场中心、固体物理所、合肥工大等20余位老师和学生提供了设备展示及免费测样机会。
AFM in SEM技术一种新型的表征联用技术， LiteScope™*的探针和扫描电子显微镜技术(CPEM)，完美地实现以下功能：表面3D表征、原位形貌及对比、材料表面粗糙度及力学分析、金属材料元素分析、表面增强拉曼、生物细胞研究、针尖定位样品、FIB加工及缺陷检测等相关测试。
