 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
超声扫描显微镜（以下简称“C-SAM设备”）是半导体封装制造行业常用的质量检测与失效分析仪器，对于检测封装制造过程中的多种常见缺陷具有*的效果。我们整理出了一些典型的缺陷形式和超声检测图像，供大家参考
上海思为仪器亮相上海ICchina国际半导体博览会2020年10月14日-10月16日位于上海浦东新国际博览中心举办的ICchina国际半导体博览会。本次博览会是半导体行业最核心且技术含量最gao的领
请输入账号
请输入密码
请输验证码
扫一扫访问手机商铺
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，仪器网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
