贵金属测试仪 型号：MHY-17417
产品详情：
X-3680 贵金属检测仪
产品型号：MHY-17417
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MHY-17417是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。
仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al(13号元素)到U(92号元素)。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。
强势功能
1. 基本参数法对从铝(13号元素)至铀(92号元素)定性分析测量。
2.包裹样品检测辨别系统。
3.样品室高清成像定位系统，方便微小样品定位测量。
4.电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合，维持内部工作环境稳定。
5. 内部动力学风道设计，快速排出多余热量。
6.双峰位快速自动校准。
7.双箱体结构，抗干扰能力强且方便硬件升级。
8.仪器工作方法任意开发。
9. 定量分析：包括经验系数法，理论a系数法和基本参数法。
10.定性分析：包括Kl谱线标记法，谱图比较法，光标自动寻峰等。
11.测试报表根据客户要求独立设计。
12.温度系数：温度变化1度，电压变化不超过0.01%
13.稳定性：经过半个小时预热后，每8小时变化不超过0.05%
14.准直器：使用特殊的滤波片自动更换，提高高能区的峰背比。
15.彩色液晶显示屏
16.自主研发的多功能数字集成新型放大器，提高降噪比。
