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著名科学家门捷列夫说过：“科学是从测量开始的”。在现代科学技术的推动下，人类对物质世界进行测量，监控物质世界使之达到目标，逐渐形成了认识世界、改造世界的重要技术，成为现代科学的重要学科之一。测试计量技
随着半导体材料、电子材料、集成电路行业的飞速发展，由于带隙参数能反应出材料价带信息，所以人们对带隙测量也越来越关注。Avantage软件具有强大的XPS数据处理能力，其中带隙测量便是其功能之一，能快速
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