2016年10月28日，第十九届全国分子光谱学学术会议暨2016年光谱年会在福州盛大开幕，本次大会持续到10月30日，会议由中国光学学会和中国化学会主办，中国科学院福建物质结构研究所、福州大学和闽江学院联合承办，来自国内外光谱领域的专家、学者等500多人参加了此次会议。

　　
　　天美公司携旗下品牌爱丁堡产品参加了本次会议。

　　
　　10月30日的大会报告中，清华大学张新荣教授、湖南大学吴海龙教授、爱丁堡的Roger Fenske博士、中科院福建物质结构研究所*盛教授、特拉华大学Isao Noda教授分别介绍了高分辨荧光成像分析系统、分子光谱学与化学多维矫正、光谱学在光致变色研究中的应用等多方面内容。
　　
　　来自爱丁堡仪器公司的CEO Roger Fenske 博士带来了题为Photoluminescence Spectroscopy of Rare Earth Materials (Why measure at the quantum limit?) 的精彩报告。Dr. Roger介绍了单光子计数检测器的灵敏度，基于单光子计数检测器的时间相关单光子计数（TCSPC）技术和多通道扫描（MCS）技术相结合，能实现从皮秒到秒级范围内的时间分辨寿命测试。Roger还分享了稀土上转换发光材料的测试的例子，这种材料由于其特殊的发光性能，需要在量子极限进行测试才能保证测试的准确度和分辨率。爱丁堡公司目前拥有很成熟的用于上转换材料测试的配置，并且会根据用户需要提供一系列可选的检测器。
　　
　　Dr. Roger的精彩报告吸引了很多老师到天美公司爱丁堡的展台进行咨询和问题讨论。

　　
　　本次会议圆满结束，天美公司希望能通过与广大光谱科学工作者、专家用户以及同行之间的交流，更加致力于科学仪器在分子光谱研究中的应用，促进我国光谱事业的发展。