功率循环可靠性测试机器

功率循环可靠性测试设备TL-PC12000W3用在中低频二三极管、MOS管、IGBT管等半导体大功率器件/功率模块进行测试

功率循环可靠性测试设备TL-PC12000W3用在中低频二三极管、MOS管、IGBT管等半导体大功率器件/功率模块进行测试

1.试验功能：

直流Power Cycling（PC）、附加OPL

1.1PC描述：

使∆TJ≥100℃（∆TJ =TJ【MAX】-TJ【MIN】）到循环次数结束，基于目的不同分两种方式：

①　∆TJ Power  Cycling（秒级/fast）

②　∆TC Power  Cycling（分钟级）&（∆TC=TC【MAX】-TC【MIN】）

每种方式各有4种循环模式：

①　恒流IH循环模式（∆TJ ↑）

②　恒定PD循环方式（∆TJ ↑）

③　恒定∆TJ循环模式（TON←、TOFF→）

④　恒定∆TC循环模式（TON←、TOFF→）

1.2OPL描述：

※  恒定PD使TJ=TJ【MAX】，并保持恒定，到时间结束，以下描述忽略此项。

2. 参数检测：

温度参数检测：

①　TJ检测：K系数法检测（VF - TJ曲线法）

②　TC检测：传感器实时检测试验器件壳温

③　TS检测：传感器实时检测试验器件热沉温度

电参数检测：

①　VGE检测：实时检测试验器件门级电压

②　VCE检测：实时检测试验器件两端电压

③　ICE检测：实时检测试验器件两端电流

3. 数据处理：

基于参数检测，分别实时得出试验参数：

①　TJ、∆TJ

②　VF、VON

③　Rth【J-C】、Rth【J-S】

4. 失效控制：

对数据处理后得出TJ、∆TJ 、VF、VON、Rth【J-C】、Rth【J-S】等试验结果，并作为样品失效的触发条件对试验进行必要的控制。

5. 试验依据：

参照JESD51、IEC60747、AQG324、AEC-Q101、MIL-STD-750等。

6. 试验效率：

3个并行独立试验工位

7.产品配置：

1. 系统主机部分：

1.1. 试验腔：

型号规格：

TL-PC03B

功能特点：

可放置3个水冷板热沉，3个工位的试验驱动、偏压、检测、冷水散热端口引入试验腔。

整个试验腔体防凝露处理，低温不凝露。

具有烟雾报警和安全处理装置。

技术参数：

内腔尺寸：W1200×H500×D600（mm）

1.2. 热沉：

型号规格：

PC15KW

功能特点：

水冷板，水流速根据降温要求自适应调节；

紫铜材质；防凝露处理；气动连接器件

技术参数：

尺寸尺寸：W300×H200×D400（mm）；温度范围：15℃~150℃

1.3. 试验电源：

型号规格：

XDC20V600A

功能特点：

器件加热功率电源。

程控电源，可手动调节。

各试验电源之间无关联性，独立运行。

技术参数：

尺寸规格：19寸6U电源

控制方式：程控

电压输出范围：DC0~20.0V可设置

电流输出范围：0~600.0A

输出纹波：≤60mV

可靠性：持续满载运行时间＞1000小时

安全保护：过热、过压、过流主动保护

1.4. 驱动检测板：

型号规格：

PC15KW

功能特点：

驱动检测1个工位的各项试验参数

驱动检测板之间无关联性，独立运行。

技术参数：

加热功率：

IH驱动(总)：0~600A,可并联使用，扩展1800A

VH驱动：0~20.0V

VG驱动：0V~+20.00V，0V~-15.00V

检测驱动：1工位

IM驱动：5~1000mA

IH检测：0~1800A

UH检测：0~24.00V

VF检测：0~10000mV（**值）

TJ检测：室温~+200.0℃

测试延时：≤100us

测试周期：≤200us

1.5. PC软件系统：

型号规格：

XLW-PC.SYS2.0

功能特点：

集成硬件、电脑界面完成试验设置、控制、参数显示、试验数处理、曲线绘制等。

工业电脑

数量1套，23寸显示屏、I5处理器、1T硬盘、Win7操作系统，强制冷却散热系统，可长期持续稳定运行＞1000小时。

技术参数：

主界面：12通道试验参数、试验数据、自动摸底、试验控制等集中展示和汇总。

器件库：器件新建、保存、删除功能。响应时间<1.5秒。

试验控制：试验【开始】、【暂停】、【继续】、【停止】，集成于主界面；控制动作执行时间<1秒。

曲线查看：【实时曲线】和【试验开始至当前时刻曲线】；采集时间*小时间间隔1秒。

数据导出查询：一键导出试验数据。容量取决于硬盘容量。

导出Excel:试验参数和数据集成一体，导出时间<15秒。

2. K系数测试仪：

型号规格：

K150T1

功能特点：

1立方英尺无风高温箱

恒温点读取温度以样品表面温度为准

恒温点可设置多个，一键自动完成K系数测试

技术参数：

工位数：1工位。

IM：5mA~10000mA。

VF测试：1个，0~10000mV，开尔文测试法。

TJ检测：实时监测，测试延时≤100us、测试周期≤200us。