PS50型三维表面形貌仪 PS50型三维表面形貌仪

PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用*的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。

1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率

2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面

5，不受样品反射率的影响

6，不受环境光的影响

7，测量简单，样品无需特殊处理

8，Z方向,测量范围大：为27mm

主要技术参数：

1，扫描范围：50×50（mm）

2， 扫描步长：0.1μm

3，扫描速度：20mm/s

4， Z方向测量范围：27mm

4， Z方向测量分辨率：2nm

产品应用：

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和*材料的研发