荧光光谱仪XRF样品膜 TF-425-345 Kapton膜

荧光光谱仪XRF样品膜 TF-425-345 Kapton膜
适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：
日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valle

、Premier 样品膜特点：

  有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择；

  柔韧性强、方便、耐用；

  X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪；

 抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品；

  （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的*检测。

、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：

日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

  、XRF样品膜目录：

美国Premier X-ray样品膜种类：

（1）、Hostaphan膜；

（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；

（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；

（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。

CAT. NO 薄膜材料       厚度       长度       数量       描述荧光光谱仪XRF样品膜 TF-425-345 Kapton膜