LQ-TS 冷热冲击稳定性试验室

冷热冲击稳定性试验室适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。

冷热冲击稳定性试验室适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。

冷热冲击稳定性试验室的温度运行控制系统如下：

控制器: LED数显（P、I、D＋S、S、R.）微电脑集成控制器。

加热系统:全独立系统，镍铬合金电加热式加热器。

制冷系统:全封闭风冷单级压缩制冷方式 /原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式。

循环系统:耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮。

标准配置:多层加热触霜附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔（25、50mm）1个。

安全保护:漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护。

温度转换时间:从低温区到高温区或 <, /SPAN>从高温区到低温区 ≤15S。

温度回复时间:≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关。

温度冲击方法:垂直两箱法 / 静止三箱法。

标准型型号（另：可根据客户要求定做）：

LQ-TS--80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440。

LQ-TS--150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540。

LQ-TS--250 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640。

LQ-TS-S-480 内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150。