E4991A 抗阻分析仪

E4991A 射频阻抗材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。

 E4991A阻抗分析仪

E4991A 射频阻抗材料分析仪 介电磁性材料测量（选件 E4991A-002）

主要特性与技术指标

基本精度

基本精度 +-0.8%

扫描参数

频率：1 MHz 至 3 GHz

振荡器电平：高达 1 dBm0.5 Vrms10 mArms

DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+- 40V 或 +- 50 mA

更多特性

Windows 风格的用户界面

内置 VBA 编程功能

通过 LAN 接口进行数据传输

多功能测量选件

介电磁性材料测量（选件 E4991A-002）

可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）

温度特性测量（选件 E4991A-007）

描述

E4991A 射频阻抗材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。

材料评估

E4991A 提供完整的介电磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。

晶圆测量

借助E4991A-010 探针台连接套件，您可轻松地地将 Keysight E4991A 连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。