Nicomp 380 ZLS 粒度检测分析仪

Nicomp 380 ZLS 粒度检测分析仪采用先进的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射（DLS）和电泳光散射（ELS）技术，即可以多角度（步长0.9°）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。

Nicomp 380 ZLS 粒度检测分析仪

产品介绍：

Nicomp 380 ZLS 粒度检测分析仪复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有技术的 NiComp 无约束自由拟合多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有*优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品*的。

Nicomp 380 ZLS通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位(正或负)越高，体系越稳定。整机采用模块化设计，功能扩展灵活方便。*的样品池设计使得进样方便快捷、用样量少，无须进行繁琐的样品池校准。

工作原理：

 动态光散射法(DLS)：有时称为准弹性光散射法(QELS)，是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用技术，粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。 悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。 分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。

仪器参数：