“ 美国ISS——*的同时提供时域TCSPC和数字频域FastFLIM™两种荧光寿命成像技术解决方案！
简介︰
“ 美国ISS——*的同时提供时域TCSPC和数字频域FastFLIM™两种荧光寿命成像技术解决方案！”市场上荧光寿命的测量方式可分为时域法和频域法，两者在本质上是相通的，测量精度相近，频域技术是时域法的傅里叶变换的延伸。时域和频域技术在各种显微寿命成像平台中都有应用，时间相关单光子计数方法（TCSPC )是为常见的时域技术，而新兴的数字频域技术（FastFLIM™ )则取代了传统的模拟频域技术，凭借其独恃的优势成为应用广的频域技术。
产品概述和特点
FastFLIM基本原理
利用脉冲光源代替调制光源对样品进行激发；发射光子通过光子计数检测器接收，不对检测器进行调制，而是通过FastFLIM对接收的光子信号进行数字转换并记录到代表不同相位的采样窗口，其采样频率fs由FastFLIM根据激发频率fex而生成，两者的差值称为互相关频率fcc，其倒数（1/fcc）正是相位采样的时间窗口；通过对接收光子的累积而生成相位直方图（cross correlation phase histogram）；通过对相位直方图的数字傅里叶变换处理可以得到在激光重复频率及多个倍频下的相位延迟（φ）和振幅解调（m），用于单指数或多指数的荧光寿命分析。
FastFLIM的*优势
Ø高效快速的数据采集模式（* duty cycle）,几乎无死亡时间;
Ø光子计数动态范围大，线性度高，数据采集率可达每秒计数6x107；
Ø提供四个数据输入通道，同时对四个检测器进行并行数据采集；
Ø灵活度高，应用范围广，100ps到100ms的无间断寿命测量；
Ø可接入多种模式触发信号与脉冲激光或其它测量设备同步；
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