DektakXT台阶仪

Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性

 布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供的重现性，重现性低于5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的，更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品，DektakXT实现了zui高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代Dektak台阶仪能够在微电子，半导体，太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。
DektakXT能实现:
■ *的性能，台阶高度重现性低于5Å
– Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性
– *的“智能电子器件”设立了新低噪音基准
– 新硬件配置使数据采集时间缩短40%
– 64-bit， Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了十倍
■ 效率*，操作简易
– 直观的Vision64用户界面，操作简易
– 针尖自动校准系统，让用户轻松更换针尖
■ 探针轮廓仪领域，的价值
– 布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现zui高的性能
– 单传感器设计，提供单一平面上低作用力和宽扫描范围